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簡介：Agilent5529B基本系統(tǒng)：包括激光源、校準(zhǔn)器和材料補(bǔ)償板、材料和空氣傳感器、電纜和附件。Agilent5529VVectra系統(tǒng)：包括校準(zhǔn)器和材料補(bǔ)償板、HPVectraPC和superV...

簡介：ML10Gold是zui的用于長度計(jì)量的激光干涉儀,其zui大的優(yōu)點(diǎn)是所有測量功能均采用激光干涉原理,性能穩(wěn)定,使用可靠,功能擴(kuò)展性強(qiáng),價(jià)格適中

簡介：CNC機(jī)床、CMM、導(dǎo)螺桿及DRO直線校驗(yàn)

簡介：1D激光主要可以測量定位誤差3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動(dòng)角

簡介：雷尼紹renishaw激光干涉儀XL-80雷尼紹Renishaw的新型XL-80激光干涉儀能夠滿足和超越實(shí)際工業(yè)規(guī)范水平，提供4m/szui大的測量速度和50kHz記錄速率。即使在zui高的數(shù)據(jù)記...

簡介：供應(yīng)德國Jenaer公司生產(chǎn)的雙頻激光干涉儀。

簡介：低價(jià)格的小型LD干涉儀。用于多種少量的小型鏡片的生產(chǎn)現(xiàn)場上的快速品質(zhì)檢查。通過簡單操作來進(jìn)行檢查。

簡介：低價(jià)格的小型LD干涉儀。手掌大小、操作簡便。只要放置被檢鏡片，便可簡單迅速地進(jìn)行測定。

簡介：透過波面測定干涉儀KIF-PU是解析光學(xué)部品的透過波面像差的干涉儀系統(tǒng)。特別在光讀取頭用的生產(chǎn)線中，是評(píng)價(jià)對(duì)物透鏡以及準(zhǔn)直透鏡的透過波面的系統(tǒng)。

簡介：應(yīng)用了KIF-10A，用于測量光圈數(shù)目的測定儀。通過光圈數(shù)目與元器的比較，可簡單地短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測定。因采用非接觸的測定方式，不用擔(dān)心會(huì)破壞鏡片面以及元器。是在制造現(xiàn)場的工序測定中*的新檢測工具。