| 參考價 | 面議 |
透過波面測定干涉儀KIF-PU是解析光學(xué)部品的透過波面像差的干涉儀系統(tǒng)。特別在光讀取頭用的生產(chǎn)線中，是評價對物透鏡以及準直透鏡的透過波面的系統(tǒng)。
無需選擇操作員即可進行穩(wěn)定的測定
配備了標準的壓電驅(qū)動受臺的自動調(diào)整構(gòu)造以及軟件，降低了調(diào)整誤差所導(dǎo)致的測定值的變動。在高NA的光讀取頭鏡片的透過波面測定中發(fā)揮威力。
可測定405nm帶鏡片·650nm帯鏡片
標準裝載了405nm光源與658nm光源的兩種波長，可通過簡單的操作切換測定波長，可對任一方的光學(xué)部品進行評價。
可進行直線/圓偏光切換
測定具有在讀取頭光學(xué)部品中使用的偏光依存性的被檢物時，需要進行直線/圓偏光切換。進行塑料以及晶體等具有復(fù)屈折特性的部品的透過波面測定。
小型·高剛性
小型且高剛性的本體具有防振功能且充分考慮到生產(chǎn)現(xiàn)場的使用環(huán)境，所以不占空間即可進行迅速的品質(zhì)檢查。
可進行合否判定
的軟件，具有根據(jù)任意設(shè)定的規(guī)格值進行合否判定的機能，所以在生產(chǎn)線中可簡單地進行合否的判定。
主要用途：
· DVD、Blu-Ray Disk等的對物透鏡的透過波面測定
· 光讀取頭光學(xué)部品的透過波面測定
· 小型反射鏡、棱鏡等的光學(xué)部品的透過波面測定
主要規(guī)格：
| 測定波長 | 圖片 2405nm , 658nm （激光等級 2 產(chǎn)品） |
| 干涉方式 | Twyman-Green（ 泰曼 - 格林 ） |
| 測定光束徑 | Φ 6mm 測定可能徑 Φ 2 ～ 6mm （ 包括調(diào)整用周邊的徑 ） |
| 偏光規(guī)格 | 圓·直線切換 |
| 反射球面 | N.A 0.85 |
| 焦點 | 有 |
| 調(diào)整 | 有 （ spot monitor ） |
| 干涉條紋表示圖像大小 | 630 X 470 （像素） |
| 解析方式 | 條紋掃描方式 |
| 遙控 調(diào)整 | 標準裝備 遙控調(diào)整范圍 ：± 50um （ 手動調(diào)整范圍 ：± 0.5mm ） |
| 倍率 | 1X , 3X （ 數(shù)碼倍率切換 ） |
| 裝置重量 | 本體 ： 約 22kg（ 除電腦 、 打印機 ） 遙控控制器 ： 約 0.5kg |
| 裝置尺寸 | 本體 ： 330（W） × 465（D） × 460（H）mm 遙控控制器 ： 154（W） × 100（D） × 75（H）mm |
| 電源規(guī)格 | 100 － 240V AC 100VA 50-60Hz |
| 使用環(huán)境 | 水平且無振動的地方 （ 地面振動 ± 0.8m/s2 以下） 溫度： 23 ± 3 ℃ 濕度： 60 ％以下、 無結(jié)露 |
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