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AS2-500 兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱500L

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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溫度沖擊試驗(yàn)箱，又稱高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高低溫溫度冷熱沖擊試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備，可滿足電工電子產(chǎn)品及設(shè)備等環(huán)境試驗(yàn) - 高溫試驗(yàn)/低溫試驗(yàn)/溫度變化試驗(yàn)/高低溫沖擊試驗(yàn)/溫度沖擊試驗(yàn)/冷熱沖擊試驗(yàn)。

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| 產(chǎn)品介紹

兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱500L

AS2-500

突出特點(diǎn)：

雙門兩槽式結(jié)構(gòu)，溫度橫向沖擊，適用于高度有限的場地使用。500L超大空間

前視圖
開箱視圖
后視圖

合作案例

技術(shù)參數(shù)

注：以上技術(shù)參數(shù)為室溫+20℃或循環(huán)水溫+25℃、空載（無試樣）時下所測得。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法

1）GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
3）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
4）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
5）GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；
6）GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；
7）GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。

標(biāo)準(zhǔn)配置

試品架2套、直徑50MM測試孔軟塞一套、操作說明書保養(yǎng)手冊、本設(shè)備出廠前經(jīng)本公司質(zhì)量檢驗(yàn)中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗(yàn)報(bào)告。


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