X射線衍儀 射線衍儀主要應(yīng)用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、晶體的取向分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力的測(cè)定、晶粒大小測(cè)定、結(jié)晶度測(cè)定等 。整機(jī)采用可編程序控制器PLC 控制技術(shù)；操作方便，一鍵式采集系統(tǒng)； 模塊化設(shè)計(jì)， 配件即插用，無(wú)需校準(zhǔn)； 觸摸屏實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè)，顯示儀器狀態(tài)；高功率 X射線發(fā)生器，性能穩(wěn)定可靠；電子鉛門聯(lián)鎖裝置，雙重防護(hù)確保使用者安全。

一、公司介紹

丹東通達(dá)科技有限公司是專業(yè)生產(chǎn)X射線產(chǎn)品的企業(yè) 射線產(chǎn)品的企業(yè) ,主導(dǎo)產(chǎn)品為 X射線分析儀器和X射線無(wú)損檢測(cè)儀器兩大系列。并且于2013年成為國(guó)家[國(guó)家重大科學(xué)儀器設(shè)備開(kāi)發(fā)專項(xiàng)]X射線單晶行儀項(xiàng)目承擔(dān)位。 射線單晶行儀項(xiàng)目承擔(dān)位。

二、TD-3700 型 X射線衍射儀技術(shù)指標(biāo)

儀器 功能 ：

X射線衍儀 射線衍儀主要應(yīng)用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、晶體的取向分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力的測(cè)定、晶粒大小測(cè)定、結(jié)晶度測(cè)定等 。

儀器 特點(diǎn) ：

整機(jī)采用可編程序控制器PLC 控制技術(shù)；操作方便，一鍵式采集系統(tǒng)； 模塊化設(shè)計(jì)， 配件即插用，無(wú)需校準(zhǔn)； 觸摸屏實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè)，顯示儀器狀態(tài)；高功率 X射線發(fā)生器，性能穩(wěn)定可靠；電子鉛門聯(lián)鎖裝置，雙重防護(hù)確保使用者安全。 

儀器精度 ：

掃描范圍： 范圍： -110～161°；

掃描方式： 透射、 步進(jìn)、連續(xù) 、OMG；

最小步進(jìn)角度：0.0001°；

2θ角重復(fù)精度：0.0001°；

全譜圖 2θ 角線性精度：≤±0.0 1°。

TD -3700型X射線衍儀除了常規(guī)衍射模式外還可以支持透射。透射模式的分辨率高,衍射信號(hào)強(qiáng) 。另外透射模式 更適合微量樣品的測(cè)試與掃描。 即可以捕捉到微量樣品的衍射峰還可以消除樣品的擇優(yōu)取向。配備上高性能一維陣列探測(cè)器后。不但測(cè)試精度會(huì)更高，而且測(cè)試強(qiáng)度比傳統(tǒng)探測(cè)器提高了幾十倍 ，采樣時(shí)間更是比傳統(tǒng) 探測(cè)器縮短了十幾倍，可以在較短的采樣時(shí)間內(nèi)獲取高強(qiáng)度、高分辨率的完整衍射圖譜。并且超高的分辨率在測(cè)量 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)樣品si 粉，采樣時(shí)間0.1秒，步寬角度0.01 ? 時(shí)，主峰 28.442的半峰寬優(yōu)于0.075，且主峰分辨率≤85%。

高性能一維陣列探測(cè)器

一維陣列探測(cè)器充分運(yùn)用了混合光子計(jì)數(shù)技術(shù)，無(wú)噪音，快速數(shù)據(jù)采集，超過(guò)閃爍探測(cè)器十幾倍以上的速度，優(yōu)異的能量分辨率，能有效的去除熒光效應(yīng)。640通道的探測(cè)器具有較快的讀出時(shí)間，形成較優(yōu)的信噪比。帶有電子門控和外部觸發(fā)的探測(cè)器控制系統(tǒng)，有效的完成系統(tǒng)的同步。

TD-3700高分辨X射線衍射儀樣品分析圖譜展示