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SEM磁性樣品觀察倉

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SEM磁性樣品觀察倉 分類： FlowView, 電鏡耗材 標(biāo)簽： SEM磁性樣品觀察倉

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描述

磁性樣品掃描電鏡（SEM）觀察*的工具！

通過密封磁性物質(zhì)，避免電鏡部件被污染，實(shí)現(xiàn)磁性原始狀態(tài)下的高分辨成像和成分分析。

  1. 適用性好。

適用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各種型號的掃描電鏡，亦可用于光鏡/熒光顯微鏡的原位觀察。

  1. 使用簡便

采用特殊的機(jī)械設(shè)計，樣品安裝1分鐘內(nèi)完成。

  1. 可靈活定制

可將樣品置于晶圓或生物芯片上進(jìn)行原位觀察。

  1. 分辨率高

放大倍率可達(dá)20萬倍，可清晰觀察小至10nm的顆粒。


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