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簡介：德國nanofilm公司于1991年開發(fā)出了世界上*臺Brewster角顯微鏡(BAM)。近幾年來，nanofilm又相繼推出了不同用途的BAM產品以及相應的配套儀器。

簡介：供應橢偏儀-美國科學計算公司(SCI)供應薄膜測量儀器-美國科學計算公司(SCI)供應薄膜測試儀器-美國科學計算公司(SCI)

簡介：激光橢圓偏振測厚儀（ELLIP-EY）適用于高校教學和工業(yè)薄膜測試為一款普及型的測試儀器。

簡介：專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數

簡介：針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層(二層或多層)減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。針對太陽能電池應用的光譜橢偏儀基于*的橢偏光路設...

簡介：激光系列產品光譜測試儀器光學精密機械光源光學影像探測器光學元件光通信儀器生物分析儀器

簡介：橢偏儀測膜厚的優(yōu)點?1.測量對象廣泛：可測透明膜，多層膜和其他性能不同厚度不同的膜。?2.被測量的薄膜尺寸可以很小。?3.測量速度快。（7-13s檢測時間）?4.光學測量方法對樣品表面損傷zui小...

簡介：光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量設備。由于與樣品非接觸，對樣品沒有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種吸引力的測量設備。

簡介：ELLIP-SR-Ⅰ型產品是集光機電于一體高精度高穩(wěn)定橢圓偏振光譜儀。從儀器狀態(tài)調整、參數設置、數據采集一直到數據處理，均通過計算機自動完成，可工作于從紫外至近紅外的寬廣光譜區(qū)，波長連續(xù)可調，入射...

簡介：橢偏儀SpecELSpecEL-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEL通過PC控制來實現折射率，吸光率及膜厚的測量。