·全面實(shí)現(xiàn)納米或亞納米分辨性能，從納米顆粒，粉末，催化劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料。 

·的背散射電子探測(cè)始終可保證良好的材料襯度，即使是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對(duì)電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像是也不例外。 

·無比靈活的探測(cè)器可將各個(gè)探測(cè)器分割提供的信息相結(jié)合，讓用戶能夠獲得至關(guān)重要的對(duì)比或信號(hào)強(qiáng)度。 

·各種各樣的荷電緩解策略，包括樣品倉壓力為 500 Pa 的低真空模式，可實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。 

·的分析平臺(tái)提供高電子束電流，而且束斑很小。倉室支持三個(gè) EDS 探測(cè)器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對(duì)分析而優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。 

·樣品處理和導(dǎo)航極容易，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。 

·通過高級(jí)用戶指導(dǎo)、預(yù)設(shè)和撤消功能為新用戶提供專家級(jí)結(jié)果。