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LINT-208G自動型WAFER平坦度測試儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 北京三禾泰達(dá)技術(shù)有限公司
品牌
型號
所在地 北京市
廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2024/12/12 15:07:56
訪問次數(shù) 43

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促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

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LINT-208G自動型WAFER平坦度測試儀

測量原理

激光干涉法適用范圍

可用于測量工件尺寸為 Φ2---Φ8（INCH）直徑的圓型晶片

測量精度及量程

1、關(guān)于厚度

厚度量程：100---2000um，測量精度與 WAFER 表面光潔度有關(guān)，即：測量重復(fù)精度（砷化鎵等二代半導(dǎo)體類雙拋表面 WAFER）：±0.3um ; 測量重復(fù)精度（碳化硅等三代半導(dǎo)體類研磨表面 WAFER）: ±0.5um ; 測量重復(fù)精度（藍(lán)寶石類單拋表面 WAFER）：±0.5um ;