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TA610測量平臺:齒條升降,立柱可以隨意轉(zhuǎn)動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度

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TA610測量平臺:

齒條升降,立柱可以隨意轉(zhuǎn)動,用來測量不容易放置的工件,可提高測量精度。
花崗巖平臺工作面精度:00級(平面公差值3μm)
花崗巖平臺大小尺寸:400mm×250mm×70mm
垂直升降高度:270mm
垂直升降微調(diào)量:20mm

TA620測量平臺:

絲桿升降,平臺上設(shè)置V型槽,用來測量形狀較小的工件,可提高測量精度。
花崗巖平臺工作面精度:00級(平面公差值3μm)
花崗巖平臺大小尺寸:400mm×250mm×70mm
垂直升降高度:300±1mm
升降回程誤差:≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈


TA630微調(diào)平臺:

X—Y平面轉(zhuǎn)角,俯仰角。
調(diào)整范圍:X向 ±12.5mm Y向:±12.5mm
旋轉(zhuǎn)角度:粗調(diào) 360 微調(diào)±5 俯仰角度 0~5


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