無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果

無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。

CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專業(yè)知識保持與時俱進(jìn)，能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴(yán)苛測量要求。 CCI光學(xué)裝置將強(qiáng)大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設(shè)計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI的薄膜厚度測量功能，進(jìn)一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計的出色計量包裝 。

• 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
• 全量程0.1埃的分辨率
• 輕松測量反射率為0.3% - 99%的各種表面
• RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
• 多語言版本的64位控制和分析軟件