ZZJ-IE200M系列倒置金相顯微鏡
一、 儀器概述：
ZZJ-IE200M操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。
光學系統(tǒng) | 有限遠色差光學系統(tǒng) |
觀察筒 | 45°傾斜，三目觀察筒，瞳距調節(jié)范圍:54-75mm，分光比：80:20 |
目鏡 | 高眼點大視野平場目鏡PL10X/18mm，可帶測微尺 |
高眼點大視野目鏡WF15X/13mm，可帶測微尺 | |
高眼點大視野目鏡WF20X/10mm，可帶測微尺 | |
物鏡 | 長工作距平場消色差金相物鏡（5X、10X、20X、50X 、100X） |
轉換器 | 內定位四孔轉換器 |
內定位五孔轉換器 | |
調焦機構 | 低手位粗微調同軸調焦機構，粗動每轉行程38 mm；微調精度0.02mm |
載物臺 | 三層機械移動平臺，面積180mmX155mm，右手低手位控制，行程：75mm×40mm |
落射照明系統(tǒng) | 落射式柯拉照明系統(tǒng)，帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄，自適應寬電壓100V-240V，單顆5W 暖色LED燈，光強連續(xù)可調 |
落射式柯拉照明系統(tǒng)，帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄，自適應寬電壓100V-240V，6V30W鹵素燈，光強連續(xù)可調 | |
攝影攝像 | 0.5X/1X攝像接筒，C型接口，可調焦 |
其他 | 起偏鏡插板，固定式檢偏鏡插板，360°旋轉式檢偏鏡插板；濾色片組；高精度測微尺 |
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