ZZJ-200H金相顯微鏡

一、概述：

■采用平場消色差光學(xué)系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng)，同時在落射照明系統(tǒng)中設(shè)計

  防反射結(jié)構(gòu)，有效防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場襯度更

  好。

■提供穩(wěn)定可靠的操作機構(gòu),使成像更清晰,操作更簡便。

■顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學(xué)設(shè)計，結(jié)構(gòu)勻稱，實現(xiàn)鏡體擴展積木化。

■工作臺、光強與粗微調(diào)的低位操作，提高了使用的舒適性。

■廣泛應(yīng)用于各類半導(dǎo)體硅晶片檢測、材料科學(xué)研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程

  等學(xué)科領(lǐng)域。

二、技術(shù)規(guī)格：