二維光熱掃描顯微鏡(Model PTM-2000)，適用于各類固體表面及亞表面缺陷的檢測(cè)和分析，特別是各類光學(xué)薄膜、光學(xué)元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測(cè)和分析。本系統(tǒng)是一款非接觸式、高分辨率、全自動(dòng)化檢測(cè)儀器，可以根據(jù)用戶具體需求進(jìn)行紫外、可見或者近紅外波段的精密檢測(cè)和分析。

三維光熱掃描顯微鏡(Model PTM3D-2000)，適用于各類光學(xué)元器件及材料體內(nèi)缺陷的三維檢測(cè)和分析。本系統(tǒng)是一款非接觸式、高分辨率、全自動(dòng)化檢測(cè)儀器。

1、高靈敏度；

2、高重復(fù)精度；

3、一鍵式操作；

4、樣品更換便捷、無(wú)需重復(fù)校準(zhǔn)；

5、可對(duì)吸收缺陷進(jìn)行二維（三維）高分辨率成像；

6、可進(jìn)行樣品或者選定的缺陷點(diǎn)在激光輻照下的穩(wěn)定性分析；

7、泵浦光源：可以標(biāo)配，也可根據(jù)用戶需求選配或者由客戶自配。

注：可以根據(jù)客戶需求提供同類特制儀器和相關(guān)測(cè)試的解決方案。