遠方VNF-200 VCSEL近場特性分析儀專為VCSEL的表面近場特性分析設計，兼具測量速度快、光學分辨率高、測量精度高的特征。儀器采用顯微光學系統(tǒng)與成像系統(tǒng)結(jié)合的方式，并依據(jù)VCSEL的特性優(yōu)化設計，實現(xiàn)VCSEL的高倍率顯微成像輻射分析。通過單次測量得到VCSEL表面二維陣列排布、壞點檢測及輻亮度數(shù)據(jù)，同時得到單點尺寸。配備專用分析軟件，可輸出符合標準的測試報告。適用于產(chǎn)線及實驗室中VCSEL表面特性的快速、精確分析。