XX-2型方塊電阻測(cè)試儀,是XX型系列四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品,是一種依照類(lèi)似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì),專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。

XX-2型方塊電阻測(cè)試儀(FOUR-POINT PROBE METER)(手持式)



XX-2型方塊電阻測(cè)試儀,是XX型系列四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品,是一種依照類(lèi)似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì),專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器.可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。



特點(diǎn)：1、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定。

2、以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰

3、采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示

4、體積≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g

5、可配臺(tái)式探頭和特制之手握式探頭，對(duì)應(yīng)可采用臺(tái)式和手握式操作，使用簡(jiǎn)易

6、帶探頭與被測(cè)物質(zhì)接觸良好指示(LED)

7、單電源開(kāi)關(guān)，推拉式探頭－主機(jī)接插件，操作極其簡(jiǎn)便。



技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00-199.99(/口)

擴(kuò)展量程: 方塊電阻 10.0-1999.9(/口)

測(cè)量不確定度≤5%

探針間距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500 M

手握式探筆長(zhǎng)度:約150mm或90mm;電纜聯(lián)線(xiàn)長(zhǎng)度:約1.5M

訂貨信息



貨號(hào) 品名 備注 單價(jià)(元)

142200 XX-2型方塊電阻測(cè)試儀 主機(jī)、裝配DNT－1型或DNT－2型探頭(無(wú)測(cè)試臺(tái)) 8260.00/套

142204 DNT-1型四探針探頭 1582.00/只

142206 DNT-2型四探針探頭 1582.00/只

142205 DJ-2型電動(dòng)測(cè)試臺(tái) 樣品直徑150mm,有效高度50mm 7960.00