應用
手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量
來料檢查
生產(chǎn)測試
過程監(jiān)視及質(zhì)量控制
數(shù)據(jù)報告的生成
元件配對
失效分析
工程測試
交互式程控

主要參數(shù)：
·半導體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的測量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的測量分辨率（370A）
·波形對比
·包絡顯示
·波形平均
·點光標（370A）
·Kelvin傳感測量
·全程控
·MS-DOS兼容的軟盤，方便設(shè)置參孝存儲和調(diào)用