V8K系列線掃鏡頭
高光光學品牌GAOPTICS V8K系列線掃鏡頭，專為大靶面相機設(shè)計，大靶面尺寸達 60mm，匹配8K7μ線掃相機，兼容8k5μ線掃相機；V接口設(shè)計，匹配多種放大倍率；適用于PCB 、LCD 、半導體檢測等領(lǐng)域。
產(chǎn)品編號 | 產(chǎn)品名稱 | 焦距 | F/# | 大傳感器尺寸 | 放大倍率 |
620100 | 焦距 60mm 0.0x～1.0x Φ60mm V-mount 線掃鏡頭 | 60mm | F4.0-F22 | 60mm | 0.0x～1.0x |
620101 | 焦距 80mm 0.0x～0.33x Φ60mm V-mount 線掃鏡頭 | 80mm | F4.0～22 | 60mm | 0.0x～0.33x |
GA 25.6mm SWIR 短波近紅外鏡頭
GA 25.6mm SWIR 短波近紅外鏡頭系列大成像尺寸25.6mm，工作波長800-1800nm，很好地兼容市面上2K分辨率的短波近紅外相機。 產(chǎn)品特點 1，1.6“像面設(shè)計，大成像尺寸為25.6mm 2，工作波長800-1800nm 3，殊光學優(yōu)化，中心與邊緣一致性高 4，高透過率工藝，適用于低照度環(huán)境 5，標準C口設(shè)計，匹配C口紅外相機
特征
尺寸表
Image Sensor | Image Circle | Horizontal | Vertical |
1/4" | Φ4.0mm | 3.2mm | 2.4mm |
1/3" | Φ6.0mm | 4.8mm | 3.6mm |
1/1.8" | Φ9.0mm | 7.1mm | 5.3mm |
2/3" | Φ11.0mm | 8.8mm | 6.6mm |
1" | Φ16.0mm | 12.8mm | 9.6mm |
4/3" | Φ22.0mm | 17.6mm | 13.2mm |
全畫幅 | Φ43.0mm | 36mm | 24mm |
面積示意圖
感光器尺寸比例大小
產(chǎn)品編號 | 產(chǎn)品名稱 | 焦距 | F/# | 工作距離 | 畸變 |
680000 | 焦距50mm 像面25.6mm 800-1800nm SWIR鏡頭 | 50mm | 2.15 | 275mm～∞ | ＜1.0% |
680001 | 焦距25mm 像面25.6mm 800-1800nm SWIR鏡頭 | 25mm | 2.10 | 200mm～∞ | ＜2.4% |
GA 1"SWIR短波近紅外鏡頭
GA 1"SWIR短波近紅外鏡頭系列為1”像面設(shè)計，像面直徑達16.4mm，F(xiàn)#1.4，工作波長為700-1700nm，匹配絕大多數(shù)的面陣短波近紅外相機。 產(chǎn)品特點 1，1”像面設(shè)計，大成像尺寸達16.4mm 2，工作波長700-1700nm 3，大光圈設(shè)計，適用于低照度環(huán)境 4，特殊光學優(yōu)化，中心與邊緣一致性高
特征
尺寸表
Image Sensor | Image Circle | Horizontal | Vertical |
1/4" | Φ4.0mm | 3.2mm | 2.4mm |
1/3" | Φ6.0mm | 4.8mm | 3.6mm |
1/1.8" | Φ9.0mm | 7.1mm | 5.3mm |
2/3" | Φ11.0mm | 8.8mm | 6.6mm |
1" | Φ16.0mm | 12.8mm | 9.6mm |
4/3" | Φ22.0mm | 17.6mm | 13.2mm |
全畫幅 | Φ43.0mm | 36mm | 24mm |
面積示意圖
感光器尺寸比例大小
產(chǎn)品編號 | 產(chǎn)品名稱 | 焦距 | F/# | 大傳感器尺寸 | 工作波長 |
680003 | 焦距25mm 1" 700-1700nm SWIR鏡頭 | 25mm | 1.40 | 1" | 700-1700nm |
680004 | 焦距35mm 1" 700-1700nm SWIR鏡頭 | 35mm | 1.40 | 1" | 700-1700nm |
高清透霧電動變倍鏡頭
高清透霧電動變倍鏡頭,此系列電動變倍鏡頭工作波長420nm-1100nm，電動調(diào)焦，大光圈設(shè)計，具備透霧功能，操控簡單。有兩個不同型號的產(chǎn)品，焦距范圍分別為10-330mm和12.5-750mm，分辨率分別是2百萬像素和3百萬像素。
特征
尺寸表
Image Sensor | Image Circle | Horizontal | Vertical |
1/4" | Φ4.0mm | 3.2mm | 2.4mm |
1/3" | Φ6.0mm | 4.8mm | 3.6mm |
1/1.8" | Φ9.0mm | 7.1mm | 5.3mm |
2/3" | Φ11.0mm | 8.8mm | 6.6mm |
1" | Φ16.0mm | 12.8mm | 9.6mm |
4/3" | Φ22.0mm | 17.6mm | 13.2mm |
全畫幅 | Φ43.0mm | 36mm | 24mm |
面積示意圖
感光器尺寸比例大小
產(chǎn)品編號 | 產(chǎn)品名稱 | 焦距 | F/# | 大傳感器尺寸 | 工作距離 |
640004 | 10-330mm 1/2 | 10～330mm | 1.5～360C | 1/2" | W：2.8m～∞ T：2.8m～∞ |
640006 | 12.5-750.0mm 1/1.8 | 12.5～750.0mm | 3.5～360C | 1/1.8" | W：5m～∞ T：5m～∞ |
2/3" 手動變焦鏡頭
2/3" 手動變焦鏡頭最大像面為11mm，焦距為12mm-36mm。
特征
尺寸表
Image Sensor | Image Circle | Horizontal | Vertical |
1/4" | Φ4.0mm | 3.2mm | 2.4mm |
1/3" | Φ6.0mm | 4.8mm | 3.6mm |
1/1.8" | Φ9.0mm | 7.1mm | 5.3mm |
2/3" | Φ11.0mm | 8.8mm | 6.6mm |
1" | Φ16.0mm | 12.8mm | 9.6mm |
4/3" | Φ22.0mm | 17.6mm | 13.2mm |
全畫幅 | Φ43.0mm | 36mm | 24mm |
面積示意圖
感光器尺寸比例大小
產(chǎn)品編號 | 產(chǎn)品名稱 | 焦距 | F/# | 分辨率 | 工作距離 |
640000 | 12-36mm 2/3" 2M 變焦鏡頭 | 12～36mm | 2.8～C | 2MP | W：0.15m～∞ T：0.45m～∞ |
640001 | 12-36mm 2/3" 5M 變焦鏡頭 | 12～36mm | 2.8～16C | 5MP | W：0.15m～∞ T：0.45m～∞ |
短波近紅外相機
SWIR相機，又稱近紅外相機，短波近紅外相機，是能對近紅外光成像的成像元件。近紅外光具有很多特點，其中兩個顯著的是：非可見性和穿透性。當需要對近紅外波段進行觀測或者需要檢測晶元材料內(nèi)部裂紋時，我們的SWIR相機都能提供可實現(xiàn)的解決方案。我們的SWIR相機工作波段為900-1700nm，分辨率高達640X512，為了不同應(yīng)用場景，配備了USB，千兆網(wǎng)，Camera Link等不同的數(shù)據(jù)接口系列。
產(chǎn)品編號 | 產(chǎn)品名稱 | 像元尺寸 | 分辨率 | 幀率(Hz) | 數(shù)字輸出 |
680100 | 400-1700nm 分辨率640×512 USB口相機 | 15μm | 640×512 | 50 / 100 | USB 2.0 |
680101 | 900-1700nm 分辨率640×512 USB口相機 | 15μm | 640×512 | 50 / 100 | USB 2.0 |
680103 | 400-1700nm 分辨率640×512 千兆網(wǎng)口相機 | 15μm | 640×512 | 50 / 100 | 千兆網(wǎng)口 |
680104 | 900-1700nm 分辨率640×512 千兆網(wǎng)口相機 | 15μm | 640×512 | 50 / 100 | 千兆網(wǎng)口 |
680106 | 400-1700nm 分辨率640×512 Camera Link口相機 | 15μm | 640×512 | 50 / 100 | SDR 26 pin connector，Base Camera Link |
680107 | 900-1700nm 分辨率640×512 Camera Link口相機 | 15μm | 640×512 | 50 / 100 | SDR 26 pin connector，Base Camera Link |
SWIR相機，又稱近紅外相機，短波近紅外相機，是能對近紅外光成像的成像元件。近紅外光具有很多特點，其中兩個顯著的是：非可見性和穿透性。當需要對近紅外波段進行觀測或者需要檢測晶元材料內(nèi)部裂紋時，我們的SWIR相機都能提供可實現(xiàn)的解決方案。SWIR相機，又稱近紅外相機，短波近紅外相機，是能對近紅外光成像的成像元件。近紅外光具有很多特點，其中兩個顯著的是：非可見性和穿透性。當需要對近紅外波段進行觀測或者需要檢測晶元材料內(nèi)部裂紋時，我們的SWIR相機都能提供可實現(xiàn)的解決方案。
