高低溫沖擊循環(huán)機與高低溫沖擊試驗機是同款同功能同設計的試驗機，由于部分客戶在做測試時用低溫沖擊試驗功能多于高溫沖擊試驗，所以他們則稱它為低溫沖擊試驗機或者低溫沖擊機，當然也可以縮短叫沖擊試驗機。
高低溫沖擊循環(huán)機的用途：
該試驗箱主要是測試電子產品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗，主要用于各種各類型的電子產品在模擬冷溫、熱溫時溫度瞬間變化的氣候條件下的適應性試驗，對電子產品的物理以及其相關性能進行測試或試驗，大概詳情如下：
1.在研制階段用以暴露試制產品各方面的缺陷，評價電子產品可靠性達到預定指標的情況。
2.生產電子產品階段為監(jiān)控生產過程提供信息。
3.對電子產品的定型進行可靠性鑒定或驗收。
4.暴露和分析電子產品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及有關的失效模式和失效機理。
5.為改進電子產品的可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產品提供依據(jù)。
的參照標準：
GB/T2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫。
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫。
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件。
GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式。
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式。
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗。
GJB360.7-87溫度沖擊試驗。
IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化。
GJB367.2-1987 通信設備通用技術條件 環(huán)境試驗方法。
GB/T 2423.22-2002溫度變化。
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則。
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。
