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UV400 / UVR400 日本yamari GaN外延生長溫度計

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日本yamari GaN外延生長溫度計
產(chǎn)品名稱
GaN外延生長溫度測量
型號
UV400 / UVR400
GaN外延生長溫度測量UV400 / UVR400可以測量GaN緩沖層生長和MQW生長的溫度。

詳細(xì)信息 在線詢價

日本yamari GaN外延生長溫度計

日本yamari GaN外延生長溫度計

日本yamari GaN外延生長溫度計

 

 

用法

  • GaN膜溫度測量
  • 反射率測量

特殊長度

  • 在藍(lán)寶石晶片上生長的GaN外延層的溫度測量
  • 在常規(guī)的NIR測量中，使用UV光（400 nm）代替了晶片袋溫度測量，以測量GaN的溫度。
  • GaN緩沖層生長和MQW生長的溫度測量是可能的。
  • 憑借高精度，您可以控制LED的發(fā)射波長。
  • 它使用高靈敏度的PMT（光電倍增管）來保持良好的信噪比和穩(wěn)定性。
  • 在NIR測量中沒有看到光干擾。
  • 測量時間：從8毫秒/ 20毫秒/ 100毫秒中選擇
  • 距測量表面的距離：固定為73 mm
  • 數(shù)字（RS485）和模擬輸出

規(guī)格

溫度范圍UV400：650?1150℃
UVR400：溫度： 650?1150℃
反射率測量： 0.000至1.000
檢測波長UV400：中心波長： 400nm
半寬： 50nm
UVR400：溫度/ 中心波長： 400nm半峰全寬： 50nm
反射率測量/中心波長： 635nm半峰全寬： 2nm（或10％）

基本系統(tǒng)配置圖

系統(tǒng)配置

 

山里產(chǎn)業(yè)介紹

  • 關(guān)聯(lián)
  • 就業(yè)信息
Yamazato Sangyo Co.，Ltd.高溫計銷售部
 
 

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深圳市秋山貿(mào)易有限公司

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