| 參考價 | 面議 |
應用：
隨著材料科學的高速發(fā)展，對材料的研究分析提出了更高的要求，例如LM與SEM和CLSM的結(jié)合使用。在材料研究中，對同一樣品失效區(qū)域的多種手段觀察尤為重要，但是傳統(tǒng)的分析手段在對失效區(qū)域的定位和對比上則顯得無能為力。為此，Carl Zeiss推出了一種全新的、行之有效解決方案“Shuttle & Find微米納米連接平臺”可實現(xiàn)同一分析區(qū)域三維圖像和二維圖像的對比研究，這種全新的樣品適配器可裝配到蔡司全部的掃描電鏡（SEM）機型上和光學顯微鏡（CLSM）和激光共聚焦顯微鏡（LM）的全自動掃描臺上，利用蔡司Axio Vision軟件的“Shuttle & Find”模塊?？稍赟EM上準確定位到在 CLSM上觀察到的同一視場，*實現(xiàn)利用LM與SEM和CLSM三種設(shè)備對同一區(qū)域?qū)崿F(xiàn)快速定位、對比、分析。省去了不斷尋找分析區(qū)域的繁瑣過程。
圖 1-1
圖1-2
圖1-3
上圖為EN-AC-AlSi7Cu3Mg合金，在鑄造過程產(chǎn)生的氣泡缺陷，圖1-1為CLSM的光學明場像，圖1-2為SEM二次電子像，圖1-3為CLSM表面形貌像。所有圖片均為同一位置，借助CLSM的“shuttle&find”功能，可實現(xiàn)對同一區(qū)域的快速定位分析，同時其3D方向上的測量優(yōu)勢可為實際工作提供更為準確的分析結(jié)果。
目前利用CLSM,LM，SEM三者進行原位觀察分析，在國外已經(jīng)深入開展起來，此外觀察時引入熱臺，借助LM的高分辨率成像，對很多以前所無法解釋到的科學現(xiàn)象可以實現(xiàn)合理的解釋。為科研、生產(chǎn)工作提供了*便利。
特點
Shuttle（硬件解決方案）
●快捷方便的在光學顯微鏡與電子顯微鏡之間進行樣品轉(zhuǎn)換。
●無需拆卸。
●無需噴金鍍膜：電荷補償技術(shù)、VP（低真空）技術(shù)及EP（超低真空）技術(shù)等為您解決了給非導體噴金鍍膜的麻煩和困擾。
●支持蔡司的所有SEM/CrossBeam?電鏡和Axio Imager，Axio Observer和SteREO Discovery系列的全自動光學顯微鏡之間的兼容。
Find（軟件解決方案）
●控制光學顯微鏡和掃描電鏡的AxioVision圖形用戶界面
●快速可靠地再現(xiàn)您所感興趣的分析區(qū)域
●光學顯微鏡和SEM/CrossBeam?電鏡的AxioVision功能
■圖像處理
■圖像分析
■文檔（制作）
較大的信息量-大的洞察力
在光學領(lǐng)域超過160年的經(jīng)驗奠定了卡爾.蔡司在電子及離子束顯微鏡領(lǐng)域的地位。的成像和分析功能集成系統(tǒng)提供了大量的信息，這要超過了僅是高分辨率所能提供的信息量。
利用多方位的技術(shù)組合，卡爾· 蔡司為您提供的設(shè)備既可根據(jù)您的要求為您量身定制，同時也為您考慮了未來的升級需求。利用我們多功能的應用解決方案，我們會努力成為您精挑細選之下的合作伙伴。
具有優(yōu)質(zhì)的配置的地區(qū)性演示中心將為您提供應用方面的專業(yè)技術(shù)，這些專業(yè)技術(shù)是我們與享有盛譽的產(chǎn)業(yè)界和學術(shù)界人士合作，并不斷完善的結(jié)果。
|
|
|
|
|
|
*您想獲取產(chǎn)品的資料：
個人信息：
