XDS近紅外在線分析儀——直射光/非接觸型是用于非直接接觸樣品實時分析的新一代在線分析儀。無損準確的檢測可在任何移動或可接近的產品上進行，比如傳送帶、傳送網帶或薄膜上。非接觸型反射檢測可提供深層的化學成分分析，無論樣品質地松散還是緊實，均勻或非均勻。非接觸型檢測可用于纖維狀、薄膜狀、多層疊加狀以及網狀樣品——如塑料、紙張或紡織品等樣品的質量控制。

XDS近紅外在線分析儀——直射光/非接觸型是用于非直接接觸樣品實時分析的新一代在線分析儀。無損準確的檢測可在任何移動或可接近的產品上進行，比如傳送帶、傳送網帶或薄膜上。非接觸型反射檢測可提供深層的化學成分分析，無論樣品質地松散還是緊實，均勻或非均勻。非接觸型檢測可用于纖維狀、薄膜狀、多層疊加 狀以及網狀樣品——如塑料、紙張或紡織品等樣品的質量控制。
檢測頭安裝在光纖的末端，由感應頭發(fā)出的高強度光穿透樣品，光與樣品作用后反射回感應頭，經收集光纖束傳送到儀器主機進行分光和信號檢測。XDS近紅外在線分析儀的設計堅固耐用，為儀器在惡劣工業(yè)環(huán)境下操作時其性能和分析結果的一致性和穩(wěn)定性提供了一個新標準。

儀器特性及優(yōu)勢
. 適用于移動樣品的無損原位近紅外檢測
. 直接在產品線上的反射檢測，無需直接接觸樣品
. 適用于傳送帶、 傳送網帶上的均勻或非均勻的樣品
. 波長范圍： 800-2200 nm
. 儀器符合 NEMA 4X/IP65，不銹鋼檢測頭符合 IP69K 保護等級