產(chǎn)品特點(diǎn)：
+ 可以精確測(cè)量Seebeck系數(shù)二維分布的商業(yè)化設(shè)備。
+ 精確的力學(xué)傳感器可以確保探針與樣品良好的接觸。
+ 采用鎖相技術(shù)，精度超過(guò)大型測(cè)試設(shè)備。
+ 快速測(cè)量、方便使用，可測(cè)塊體和薄膜。
主要技術(shù)參數(shù)：
+ 位置定位精度：?jiǎn)蜗?0.05 μm；雙向 1 μm
+ 大掃描區(qū)域：100 mm × 100 mm 典型值
+ 局部測(cè)量精度：5 μm（與該區(qū)域的熱傳導(dǎo)有關(guān)）
+ 信號(hào)測(cè)量精度：100 nV（采用高精度數(shù)字電壓表）
+ 測(cè)量結(jié)果重復(fù)性：重復(fù)性誤差優(yōu)于3%
+ 塞貝克系數(shù)測(cè)量誤差：< 3% (半導(dǎo)體)；< 5% (金屬)
+ 電導(dǎo)率測(cè)量誤差： < 4%
+ 測(cè)量速度：測(cè)量一個(gè)點(diǎn)的時(shí)間4-20秒
