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VIS-NIR 土壤剖面勘查分析系統(tǒng)

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VIS-NIR 土壤剖面勘查分析系統(tǒng)

土壤剖面EC(電導(dǎo))、緊實度及OM(有機質(zhì))調(diào)查,土壤樣芯采集與高光譜成像分析

VIS-NIR土壤剖面理化性質(zhì)勘測系統(tǒng)由可見光-近紅外光譜儀、車載式土壤樣芯鉆測采樣裝置組成,同時配備土壤電導(dǎo)傳感器,通過GPS定位和數(shù)據(jù)處理測繪軟件,可以對區(qū)域范圍內(nèi)的不同樣點土壤剖面的土壤反射光譜及土壤電導(dǎo)進行高密度自動抽樣測量并繪制分布圖,進而全面分析反映土壤剖面的碳氮分布、緊實度、質(zhì)地、鹽堿度、持水能力、陽離子交換能力(CEC)等,可用于土壤調(diào)查測繪、土壤碳匯評估、碳匯農(nóng)業(yè)(土壤碳儲量估算)、土地復(fù)墾監(jiān)測、及精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)的研究示范等領(lǐng)域。

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系統(tǒng)使用雙波段光譜儀,波長分別為660nm和940nm,綜合反映土壤光譜特性;可同時測量土壤剖面光譜特性、土壤剖面電導(dǎo)分布及土壤緊實度(鉆探阻力傳感器),用于測繪土壤剖面碳氮分布、土壤有機質(zhì)分布、土壤質(zhì)地分布等等土壤理化特性;配套軟件用于調(diào)控、數(shù)據(jù)記錄與標(biāo)準(zhǔn)化及數(shù)據(jù)處理分析。

同時該系統(tǒng)還可作為土壤剖面樣芯采樣工具使用,用戶可將采到的土壤樣芯帶回實驗室做進一步分析,建議選配易科泰公司SpectraScan高光譜成像分析技術(shù)方案。

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技術(shù)指標(biāo)

1.波段:660nm和940nm

2.采樣頻率:25 spectra/s,自動平均為1個讀數(shù)

3.光譜分辨率:8nm

4.A/D轉(zhuǎn)換器分辨率:16比特

5.檢測器:Ocean Optics USB4000 (350-1050nm)

6.VIS-NIR光譜儀操作溫度:-6.7到46℃

7.可同時記錄經(jīng)緯度、深度、壓力(鉆探阻力,反映土壤緊實度)、電導(dǎo)及土壤剖面光譜特性(660nm、940nm兩個波段,反映土壤有機碳或有機質(zhì)含量)

8.軟件:數(shù)據(jù)采集、聚類分析、樣點選擇及導(dǎo)航

9.金屬采樣鉆管:直徑1.35英寸和1.5英寸可選,長度1米

10.通訊端口:USB 1.1/2.0

11.傳感器探桿:102cm×2.54cm(長×直徑),包括偶極EC觸點傳感器和壓力傳感器

12.連接方式:三點掛接式(與拖拉機)

13.汽缸:54英寸沖程缸

14.傳動方式:液壓齒輪

15.整體設(shè)備尺寸:81cm×121cm×180cm(長×寬×高)

16.整體設(shè)備重量:383kg

產(chǎn)地:美國

選配土壤樣芯分析技術(shù)方案

?SisuROCK多樣芯高通量高光譜成像掃描分析系統(tǒng)

?CoreScanner樣芯密度與元素掃描分析系統(tǒng)

?SisuSCS單樣芯高光譜成像掃描分析系統(tǒng)

?SpectraScan高光譜成像掃描分析系統(tǒng)

?SisuCHEMA高光譜成像分析系統(tǒng)


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