美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀（SMPS-3938）廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（ NIST ）使用一個 TSI DMA 尺寸為 60 nm 和 100 nm 的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。

美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS-3938)特點和優(yōu)點   

高分辨率數(shù)據(jù)：多達(dá) 167  個通道 

廣泛的尺寸范圍：從 2.5 nm  到 1000 nm   

 ISO 15900:2009  兼容 

快速測量：＜ 10  秒掃描 

寬的濃度范圍內(nèi)， 10⁷  particles/cm³ 

大的靈活性組件的設(shè)計 

無需電腦的操作， 觸摸屏控制 

易于安裝與不安裝工具和自動發(fā)現(xiàn)部件 

離散粒子測量：適用于多模樣本 

獨立的顆粒和流體的光學(xué)性質(zhì) 

寬范圍的系統(tǒng)的選擇：水或丁醇計數(shù)器供選擇；傳統(tǒng)的或非放射性中和器的選擇 

美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS-3938)應(yīng)用   

納米技術(shù)研究和材料的合成 

大氣研究和環(huán)境監(jiān)測 

燃燒和發(fā)動機(jī)排氣的研究 

室內(nèi)空氣質(zhì)量的測量 

核 /  冷凝的研究 

吸入毒理學(xué)研究 

內(nèi)容包括   

靜電分類器與您選擇的 DMA  柱 

可兼容六種 CPC   

氣溶膠儀器 ®  軟件經(jīng)理 

數(shù)據(jù)采集計算機(jī)必須單獨購買。