SediGraph III 5120全自動Χ光沉降粒度分析儀，新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與先進(jìn)的檢測儀器功能相結(jié)合，提供的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量，利用標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度，無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。

　　新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與先進(jìn)的檢測儀器功能相結(jié)合，提供的重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量，利用標(biāo)準(zhǔn)的沉降法測量粒度，無需建模。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙、陶瓷、磨料等數(shù)個行業(yè)的金色標(biāo)準(zhǔn)。

                                  SediGraph^®Ⅲ Plus全自動X光沉降粒度分析儀

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久經(jīng)考驗的技術(shù)和可靠性

       在過去的三十多年中，麥克儀器公司的SediGraph是*許多實驗室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗室，SediGraph憑借其的可靠性得出精確的測量結(jié)果。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據(jù)Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。

智能設(shè)計特色

SediGraph III Plus 粒度分析儀先進(jìn)的設(shè)計確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護(hù)更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性*的結(jié)果。

• 高精度X光管終身保修（7年）

• 簡化泵系統(tǒng)，確?？焖俜治龊鸵子诰S護(hù)

• 降低噪聲，提供更加安靜的工作環(huán)境

• 維護(hù)提醒裝置，根據(jù)總測試量，提示用戶進(jìn)行定期維護(hù)

• 電腦控制混合室溫度，提高測試可重復(fù)性

• Windows操作軟件，以太網(wǎng)連接，可進(jìn)行點(diǎn)擊式選擇菜單，聯(lián)網(wǎng)工作，打印機(jī)選擇，剪切和粘貼等操作

• 多功能和交互式報告系統(tǒng)，能夠提供多種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）

多項功能