儀器特性及優(yōu)勢

XDS NIR 技術(shù)確保使用簡單和定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移
快速斷開式探頭，優(yōu)化了固體和液體的測量
無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物
面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀
熱插拔模塊 — 幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會影響性能

儀器簡介

采用 XDS TOPA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，您可以大大縮短產(chǎn)品停留時(shí)間，使實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間zui小化。

XDS TOPA 近紅外光譜分析儀是特別針對水狀產(chǎn)品、透明液體、溶劑以及粘性樣品的實(shí)驗(yàn)室監(jiān)測而設(shè)計(jì)的。XDS TOP 近紅外光譜分析儀非常適合用于中試過程應(yīng)用和生產(chǎn)線的測量。

有了這種分析儀，可以很容易地使用一次性樣品瓶分析粘性樣品，縮短了清理時(shí)間。利用選配的樣品瓶加熱器模塊，該系統(tǒng)還能在數(shù)據(jù)分析前，提供無人值守的樣品加溫平衡（zui高可達(dá) 200 °C），提高了實(shí)驗(yàn)室效率。

XDS NIR 技術(shù)不僅帶來了*的分析性能，加快了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時(shí)間，保證了定標(biāo)的無縫轉(zhuǎn)移。

使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision® 軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個(gè)按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成精準(zhǔn)的分析。