Single-arch設計提供具突破性的掃描穩(wěn)定性

 布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設計，可以提供的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于5Å。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。通過整合其行業(yè)產(chǎn)品，DektakXT實現(xiàn)了zui高性能。操作簡易，從研發(fā)到質(zhì)量控制都有更好的過程控制。整合了技術突破到第十代Dektak臺階儀能夠在微電子，半導體，太陽能、超高亮度發(fā)光二極管（LED）、醫(yī)學、材料科學等行業(yè)實現(xiàn)納米級表面形貌測量。
DektakXT能實現(xiàn):
■ *的性能，臺階高度重現(xiàn)性低于5Å
– Single-arch設計提供具突破性的掃描穩(wěn)定性
– *的“智能電子器件”設立了新低噪音基準
– 新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短40%
– 64-bit， Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍
■ 效率*，操作簡易
– 直觀的Vision64用戶界面，操作簡易
– 針尖自動校準系統(tǒng)，讓用戶輕松更換針尖
■ 探針輪廓儀領域，的價值
– 布魯克（Bruker）以實惠的配置實現(xiàn)zui高的性能
– 單傳感器設計，提供單一平面上低作用力和寬掃描范圍