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簡介：美國PSS粒度儀公司是代表*水平的專業(yè)粒徑分析儀設(shè)計制造商。由PSS公司開發(fā)、研制的分析儀器多年來在上享有盛譽，曾多次榮獲全美*實驗儀器獎。主流產(chǎn)品Nicomp,AccuSizer系列還獲得了美國...

簡介：Bettersize2000W激光粒度儀是一種采用雙鏡頭技術(shù)的智能型的激光粒度儀，具有自動測試、自動對中、自動進(jìn)水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗等特殊功能。

簡介：Rise-2006型全自動高精度智能型激光粒度儀是由濟南潤之科技有限公司潛心研發(fā)生產(chǎn)的高精度、高性能激光粒度分析儀，本儀器采用全量程米氏散射理論，設(shè)計*符合ISO技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，經(jīng)過多年的不斷深度開發(fā)和...

簡介：貝克曼庫爾特LS13320系列激光粒度儀應(yīng)用顆粒光散射原理，據(jù)光學(xué)理論推算顆粒粒度分布，主要適用于粉體或各種材料顆粒粒度分析。其較大特點是粒度分析動態(tài)范圍寬；分辨能力為同行業(yè)中較高；操作簡便快捷；...

簡介：BT-2900LD干濕法圖像粒度粒形分析系統(tǒng)作為國內(nèi)外*干濕法二合一圖像粒形分析系統(tǒng)，適用廣泛：干法適用于粗顆粒，團聚體的粒徑粒形分析，尤其適合數(shù)百微米至毫米級的粗顆粒及團聚體，濕法適用于較細(xì)顆粒...

簡介：納米粒度儀-惟一通過“并行測量”技術(shù)同步獲得粒徑與Zeta電位數(shù)據(jù)的分析儀。-惟一以“多角度測量”分析Zeta電位的技術(shù)（MP-PALS）。-*的“DelsaMaxASSIST”（選配項）輔助處理...

簡介：BT-1700靜態(tài)掃描圖像粒度粒形分析系統(tǒng)（潔凈度分析系統(tǒng)）是一種高性能的靜態(tài)圖像顆粒分析系統(tǒng)。用在對粉體材料顆粒分析時叫做粒度粒形分析系統(tǒng)；用在潔凈度分析時叫做潔凈度分析系統(tǒng)。

簡介：百特Bettersize2000B激光粒度儀是采用波長為400nm的短波長激光作為光源的智能化的激光粒度儀。

簡介：BT-1600圖像顆粒分析系統(tǒng)是丹東百特儀器有限公司研制的一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分...

簡介：多角度Zeta電位及納米粒徑分析儀核心技術(shù)：惟一通過“并行測量”技術(shù)同步獲得粒徑與Zeta電位數(shù)據(jù)的分析儀；惟一以“多角度測量”分析Zeta電位的技術(shù)（MP-PALS）；*的“DelsaMaxAS...

簡介：Zeta100電位納米粒度分子量分析儀是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

簡介：貝克曼庫爾特DelsaMaxCORE靜態(tài)分子量與納米粒度分析儀核心技術(shù)：惟一通過“并行分析”技術(shù)同步獲得粒徑與靜態(tài)分子量數(shù)據(jù)的分析儀；惟一同時應(yīng)用靜態(tài)光散射與動態(tài)光散射的分析儀；“飛快分析”技術(shù)-...

簡介：BT-90動態(tài)光散射納米粒度儀，是丹東百特引進(jìn)華南師范大學(xué)研究成果并與華南師范大學(xué)共同實施產(chǎn)業(yè)化的項目。其動態(tài)光散射（DLS）的原理是當(dāng)納米顆粒分散在液體中的時候，納米顆粒在液體分子布朗運動的作用...

簡介：AccuSizer780AD粒度測量儀采用擁有的單顆粒激光測量技術(shù)（SPOS）和動態(tài)自動稀釋技術(shù)實現(xiàn)單顆粒依次檢測分析，具有較好的靈敏度、解析度和精確度，不存在顆粒間相互干擾問題（如：激光衍射整體...

簡介：Bettersize2000激光粒度分析儀是一種采用雙鏡頭技術(shù)的一體化激光粒度儀。它的散射光發(fā)生與探測系統(tǒng)是由一個大功率光纖半導(dǎo)體激光器、樣品池、兩個高精度的進(jìn)口透鏡組和兩組光電探測器陣列組成。

簡介：動態(tài)圖像粒度粒形分析系統(tǒng)是采用了鞘流技術(shù)的動態(tài)粒度粒形分析系統(tǒng)。鞘流技術(shù)也叫流體聚焦技術(shù)，為了避免顆粒在流動過程中發(fā)散，在管路中設(shè)計了兩條流路，一條是樣品流，一條是鞘液流。

簡介：Bettersize2600E激光粒度儀是Bettersize2600激光粒度儀的簡化版，通過將較高成本的正、反傅里葉結(jié)合光學(xué)系統(tǒng)適當(dāng)降低成本，將這種精度高的、測量范圍寬的粒度測試新技術(shù)用到經(jīng)濟型...

簡介：DelsaMaxCORE靜態(tài)分子量及納米粒度同步分析儀，惟一通過“并行分析”技術(shù)同步獲得粒徑與靜態(tài)分子量數(shù)據(jù)的分析儀，同時具備動態(tài)光散射與靜態(tài)光散射，同時具備動態(tài)光散射檢測器與靜態(tài)光散射檢測器

簡介：Nicomp380系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（DynamicLightScattering,DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍...

簡介：SA3100比表面積及孔徑分析儀采用當(dāng)今被*為超準(zhǔn)確的氣體吸附技術(shù)測量固體的比表面積與多孔特性，利用固體表面對氣體分子產(chǎn)生吸附作用的原理，結(jié)合BET、LANGMUIR等模擬理論，對多孔材料的比表面...