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簡介：WET-SPM系列可控環(huán)境艙原子力顯微鏡為原子力顯微鏡實(shí)驗(yàn)提供各種環(huán)境。真空，各種氣體（氮，氧等），可控濕度，溫度，超高溫，超低溫，氣體吹掃等環(huán)境。

簡介：LEXTOLS4500納米檢測顯微鏡是結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及掃描探針顯微鏡（SPM）功能為一體的革新機(jī)，從而可以實(shí)現(xiàn)對(duì)觀測對(duì)象從幾十倍到百萬倍的連續(xù)放大,可以滿足不同樣...

簡介：WET-SPM系列可控環(huán)境艙原子力顯微鏡實(shí)驗(yàn)提供各種環(huán)境。真空，各種氣體（氮，氧等），可控濕度，溫度，超高溫，超低溫，氣體吹掃等環(huán)境。

簡介：SPM-8100FM高分辨原子力顯微鏡，使用調(diào)頻模式的型HR-SPM高分辨率原子力顯微鏡，不僅可以在空氣及液體環(huán)境中實(shí)現(xiàn)超高分辨率，而且*觀察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層。

簡介：島津SPM-8000FM型高分辨原子力顯微鏡使用調(diào)頻模式，極大提高了信號(hào)的靈敏度，是*款可以在大氣環(huán)境下獲得與真空環(huán)境中同樣超高分辨率表面觀察圖像的產(chǎn)品，無論樣品種類（薄膜、晶體、半導(dǎo)體、有機(jī)材料...

簡介：濁度測定儀符合國家環(huán)境保護(hù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《HJ1075-2019水質(zhì)濁度的測定濁度計(jì)法》

簡介：1.快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的2.相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布3.超寬范圍雙折射測試儀

簡介：PHL應(yīng)力雙折射測量儀PA-300-XL:PA系列是日本Photoniclattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近...

簡介：紅外應(yīng)力雙折射測量儀硫系，紅外樹脂等材料對(duì)可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評(píng)估很難實(shí)現(xiàn)，為此PhotonicLattece專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高...

簡介：應(yīng)力雙折射測量儀WPA-200可測量相位差高達(dá)3500nm，適合PC高分子材料，是Photoniclattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速而又精確的測量能力使其成為*的光...