HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀 參考價：面議
動態(tài)光散射粒徑分布測定裝置新型號，高靈敏度、高精度的測量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。主要應(yīng)用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制...
激光粒度儀 參考價：面議
激光粒度分析儀以在亞微米范圍內(nèi)的*測量能力而聞名，新型號除了保有這一優(yōu)勢還發(fā)展出全新的特性。HORIBA依據(jù)多年經(jīng)驗，進一步完善數(shù)據(jù)運算方法，以不斷滿足用戶對更...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
4