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參考價	面議

分析儀及測試儀

氣相質(zhì)譜聯(lián)用儀

X - 射線熒光光譜儀

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ARL QUANT´ X - 射線熒光光譜儀是一個完整的配置包，配置高級的硬件，先進的分析軟件，基于數(shù)百個XRF成功應用分析案例和幾十年的實踐經(jīng)驗，為現(xiàn)場應用方法開發(fā)和技術支持提供了強大的支撐。

X - 射線熒光光譜儀產(chǎn)品簡介

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度，打破了1納米的檢測限瓶頸。專為滿足實驗室和制造環(huán)境中具挑戰(zhàn)性的分析需求而設計，ARL QUANTX EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可大幅度提高各種元素分析應用的分析量。能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術可通過簡易的樣品制備，實現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍廣泛，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。

ARL QUANT´ X熒光光譜儀是一個完整的配置包，配置高級的硬件，先進的分析軟件，基于數(shù)百個XRF成功應用分析案例和幾十年的實踐經(jīng)驗，為現(xiàn)場應用方法開發(fā)和技術支持提供了強大的支撐。

分析優(yōu)勢:
• 快速分析 F到U之間的元素
• 靈敏度從 <1 ppm -100%
• 多元素的測量時間10-60秒
• 多達8種的設置條件同時選擇，應用于各種樣品的多元素分析
• 通過 CCD 照相機顯示樣品影像
• 可調(diào)的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應不同樣品大小
• *的電制冷Si(Li)檢測器技術和數(shù)字脈沖處理器技術
• Wintrace 多元化的 XRF 應用軟件，多個報告輸出選項
• 高級無標樣厚度和涂層分析
• 專有的UniQuant 無標樣分析技術
• 機械持久性，可保證長期的*使用，占地面積小，機動性好
• 可以為客戶定制應用并在線升級，易于安裝維護

探測器內(nèi)部的-*技術
作為一個有著超過40年經(jīng)驗的X射線探測器制造商，本公司深入了解并定義了探測器性能的關鍵參數(shù)。經(jīng)歷了4代探測器的技術創(chuàng)新，硅鋰Si(Li)探測器成為ARL QUANT´ X 的心臟，提供了高靈敏度，速度和可靠性。
• 更低的晶體溫度提供了更佳的分辨率
• 更厚的晶體可獲得更佳的探測性能
• 大的晶體面積可獲得更佳的檢測下限

功能強大、易于使用的 WinTrace*軟件
• 無標和半無標分析
• 基本參數(shù) (FP) 和基于標樣的經(jīng)驗方法
• 多層厚度及成分
• 不限元素、不限數(shù)量的標樣
• 利用自動化操作實現(xiàn)多個激發(fā)條件

X - 射線熒光光譜儀主要用途：

• 懸浮顆粒物過濾器
• 符合 RoHS 及 WEEE 的分析
• 法醫(yī)及痕量分析
• 營養(yǎng)補充劑
• 磁性介質(zhì)和半導體
• 土壤污染
• 過濾器上的薄膜
• 塑料中的有毒元素