移動端
直播推薦
回放
回放
AFM原子力顯微鏡可適用于哪些物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope ，AFM)，是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。
原子力顯微鏡可適用于各種的物品，如金屬材料、高分子聚合物、生物細胞等，并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境，進行不同物性分析，所以AFM 大的特點是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作， 因此，AFM 在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有廣泛的應(yīng)用。根據(jù)針尖與樣品材料的不同及針尖-樣品距離的不同，針尖與樣品之間的作用力可以是原子間斥力、范德瓦爾斯吸引力、彈性力、粘附力、磁力和靜電力以及針尖在掃描時產(chǎn)生的摩擦力。通過控制并檢測針尖與樣品之間的這些作用力，不僅可以高分辨率表征樣品表面形貌，還可分析與作用力相應(yīng)的表面性質(zhì)：摩擦力顯微鏡可分析研究材料的摩擦系數(shù)；磁力顯微鏡可研究樣品表面的磁疇分布，成為分析磁性材料的強有力工具；利用電力顯微鏡可分析樣品表面電勢、薄膜的介電常數(shù)和沉積電荷等。另外，AFM 還可對原子和分子進行操縱、修飾和加工，并設(shè)計和創(chuàng)造出新的結(jié)構(gòu)和物質(zhì)。
安東帕 Tosca 系列AFM原子力顯微鏡以*的方式將先進技術(shù)與高時效操作相結(jié)合，高度自動化被植入到每一級操作中，使這款 AFM 成為廣大科研和工業(yè)用戶理想的納米技術(shù)分析工具。
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源：儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權(quán)等法律責任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
浙公網(wǎng)安備 33010602002722號
第四屆全國光譜大會
展會城市：株洲市展會時間：2025-05-08