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DS發(fā)射率測(cè)量?jī)x技術(shù)說(shuō)明【測(cè)量值的測(cè)量方法】

發(fā)光計(jì)型號(hào)AE – 用于自動(dòng)曝光測(cè)量的滑動(dòng)方法：

如果需要對(duì)原位材料、無(wú)法放置在散熱器上的大樣品或?qū)嵯禂?shù)低的材料進(jìn)行發(fā)射測(cè)量，如果表面溫度與校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)溫度不同，則可能會(huì)出現(xiàn)誤差。有必要確保表面溫度與校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)相同，或計(jì)算校正后的讀數(shù)。

本文描述了糾正所指示的發(fā)射值的兩種技術(shù)方法。 這里描述了第三種方法，它避免了計(jì)算校正的需要。它需要更大的表面面積，允許達(dá)到室溫，就像標(biāo)準(zhǔn)一樣。

首先，儀器在低發(fā)射率和高發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)上進(jìn)行校準(zhǔn)。然后將檢測(cè)器放在要測(cè)量的樣品上，并允許大約一分鐘，使檢測(cè)器讀數(shù)達(dá)到接近穩(wěn)定的值。在此期間，預(yù)計(jì)表面將直接在探測(cè)器下方加熱，因此發(fā)射讀數(shù)將低于應(yīng)有的水平。然后，探測(cè)器應(yīng)該在表面上滑動(dòng)幾英寸到不同的點(diǎn)，而不會(huì)中斷與表面的接觸。這將讓探測(cè)器測(cè)量到已處于正確溫度的樣品區(qū)域，因此發(fā)射讀數(shù)應(yīng)該增加少量，并且將更接近正確的值，因?yàn)楸砻嬖谔綔y(cè)器下方加熱的時(shí)間更少。這個(gè)過(guò)程可以重復(fù)幾次，每次移動(dòng)到以前沒(méi)有測(cè)量過(guò)的地方，并且該值應(yīng)該接近穩(wěn)定的讀數(shù)。

 測(cè)量值的測(cè)量方法有很多，穩(wěn)定不穩(wěn)定，準(zhǔn)確不準(zhǔn)確的話，就看測(cè)量的方法是否正確，如果您也有這方面的相關(guān)問(wèn)題，歡迎大家一起來(lái)和上海明策的技術(shù)工程師們一起探討，更多詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)大家繼續(xù)關(guān)注我們吧！