X-50 手持式 X 熒光光譜儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
1、核心芯片 ARM 架構(gòu)，操作系統(tǒng)反應(yīng)更快；分析儀重量更輕，體積更小，攜帶更方便；
2、采用新一代高性能，高精度，高靈敏度大面積 Si-PIN 探測(cè)器，擁有更低的元素檢出下限；
3、采用新一代的校準(zhǔn)技術(shù)，具有更高的計(jì)數(shù)率，從而使儀器具有更快的檢測(cè)速度和更好的精確性；
4、采用升級(jí)核心算法，使儀器重要指標(biāo)重復(fù)性（RSD%）提升；
5、工業(yè)級(jí)雙層探測(cè)器保護(hù)技術(shù)，內(nèi)置不銹鋼快門(mén)保護(hù)裝置，測(cè)試時(shí)自動(dòng)打開(kāi)，測(cè)試結(jié)束后自動(dòng)關(guān)閉，有效的保 護(hù)儀器在測(cè)試過(guò)程中不會(huì)被不規(guī)則樣品損傷探測(cè)器，降低了分析儀損壞的風(fēng)險(xiǎn)；
6、內(nèi)置高清彩色攝像頭，能使用戶(hù)準(zhǔn)確觀察到測(cè)試部位;
7、內(nèi)置微點(diǎn)準(zhǔn)直器，可測(cè)試焊縫及細(xì)小樣品;
8、底部四方形設(shè)計(jì)，平衡性好。使儀器可自立于工作臺(tái)，便于放置；儀器底部和主體尾部在一條直線(xiàn)上，能反 向自立于工作臺(tái)，測(cè)試小樣品無(wú)需手握，也無(wú)需單獨(dú)購(gòu)買(mǎi)支架；
9、Android OS 操作系統(tǒng)，有利于智能化和擴(kuò)展性，方便客戶(hù)數(shù)據(jù)系統(tǒng)與臺(tái)式電腦操作系統(tǒng)相結(jié)合
X-50 手持式 X 熒光光譜儀 技術(shù)參數(shù)表
1、激發(fā)源 標(biāo)準(zhǔn) X-50 合金分析儀采用 4 W, 40 kV 銠靶 X 射線(xiàn)光管
2、探測(cè)器 大面積 Si-PIN 探測(cè)器。
3、探測(cè)器保護(hù)：采用工業(yè)級(jí)雙層探測(cè)器保護(hù)技術(shù)，內(nèi)置金屬探測(cè)器保護(hù)快門(mén)， 測(cè)試時(shí)自動(dòng)打開(kāi)，測(cè)試結(jié)束后自動(dòng)關(guān)閉，更好的保護(hù)探測(cè)器，防止探測(cè)器損壞。從外到內(nèi)所分布 的防爆膜、快門(mén)裝置、碳纖維保護(hù)網(wǎng)對(duì)脆弱而又昂貴的探測(cè)器形成了有力的保護(hù)，該快門(mén)裝置還 可有效遮擋 X 射線(xiàn),防止意外傷人。
4、標(biāo)準(zhǔn)塊：可實(shí)現(xiàn)自校準(zhǔn)。
5、分析環(huán)境：環(huán)境溫度： -20℃ ~50℃，環(huán)境濕度： 10%~90%
6、外形尺寸 尺寸： 215mm x 241mm x 61mm 。重量： <>。
7、無(wú)需外接支架，儀器可直接倒立于水平面，測(cè)試更省力。
8、配置元素 包括但不限于 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Y, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Au, Cd, Pb, Bi, Sn, Sb, W, Ta, Hf, Re 等。
9、濾波器 6 個(gè)濾波器，根據(jù)不同的電壓自動(dòng)切換，不同的元素采用不同的濾波器。
