產(chǎn)品信息

特　點(diǎn)

● 采用分光干涉法

● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（ 第4834847號(hào)）

● 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng)

● 可嵌入至各種制造設(shè)備。

● 實(shí)時(shí)測量膜厚

● 可對應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測量

● 采用壽命長、安全性高的白色LED光源

測量項(xiàng)目

多層膜厚解析

用　途

光學(xué)薄膜（超硬涂層、AR薄膜、ITO等）

FPD相關(guān)（光刻膠、SOI、SiO2等）

設(shè)備構(gòu)成

單點(diǎn)型

半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量

玻璃基板的面內(nèi)分布測量

多點(diǎn)型

實(shí)時(shí)測量

流向品質(zhì)管理

真空室適用

導(dǎo)線型

實(shí)時(shí)測量

寬度方向品質(zhì)管理

測量案例

超硬涂層的膜厚解析