電子光學系統(tǒng)的高質(zhì)量成像

JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，全新的鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

二次電子像

通過高真空二次電子像觀察到的蝴蝶鱗粉?？梢杂酶叩姆直媛视^察微觀結(jié)構(gòu)。

背散射電子像

通過在低加速電壓下觀察背散射電子成份像，能觀察到每個碳化鎢顆粒的通道襯度。

新的掃描系統(tǒng)使低加速電壓下的圖像質(zhì)量更高

幀累積法能抑 制荷電效應，對非常容易充電的樣品可以輕松地進行觀察。

新的掃描方式能減輕樣品的帶電，不易受到樣品漂移的影響，即使是容易充電的樣品，高倍率下的圖像質(zhì)量也得到了顯著的提高。

EDS 集成化 EDS 一觸式分析

JSM-IT300A/LA

JEOL 是集開發(fā)、制造和銷售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在觀察和分析過程中，輕觸屏幕即可進行分析。

一觸式分析

在 SEM 的操作界面上，只需輕觸圖標就可以執(zhí)行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一體 化集成，提高了通量和易用性。

基本的分析操作，在 SEM 的 GUI 上一觸即成。

在 SEM 的 GUI 上，輕觸屏幕即可執(zhí)行基本的分析操作。