原產(chǎn)地： 英國(guó)

產(chǎn)品型號(hào)：Zetasizer Nano系列 
原產(chǎn)地： 英國(guó)
產(chǎn)品描述
儀器介紹
新一代Zetasizer Nano 系列可以為膠體和聚合物化學(xué)專家提供綜合測(cè)量三項(xiàng)重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。 
這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無比的靈敏性和多功能性。 

粒度 - NIBS 技術(shù)可以對(duì)粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進(jìn)行測(cè)量。 

Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進(jìn)行精確的測(cè)量。 

分子量 - 雪崩光電二極管檢測(cè)器和光纖檢測(cè)光學(xué)裝置提供測(cè)量分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。 

Zetasizer Nano 系列中,可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號(hào)

Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano 系列中的，能夠測(cè)量所有三項(xiàng)參數(shù)，而且性能絲毫不減。 

Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用*的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。 

所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動(dòng)滴定儀連接使用，實(shí)現(xiàn)趨勢(shì)測(cè)量和樣品制備的自動(dòng)化。

主要特點(diǎn)
新一代Zetasizer Nano系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀 
持續(xù)革新與優(yōu)化 樹立納米分析新*
融合多項(xiàng)技術(shù) 挑戰(zhàn)顆粒表征極限 
粒度范圍極寬:0.3-- 10 μm 
濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v) 
測(cè)量分子量 
高分辨率高靈敏度Zeta電位測(cè)量 
zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測(cè)高濃度樣品至40%(依賴于樣品)的極限能力

技術(shù)參數(shù)：

粒徑測(cè)量
大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm * 
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v * 
檢測(cè)角度: 175º 和 12.8º 
小樣品量: 12 μl 

Zeta電位測(cè)量 
Zeta電位范圍: 無實(shí)際限制 
電泳遷移率: 0 – 無實(shí)際上限 
大樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm 
大樣品濃度: 40% w/v 
小樣品量: 150 μl 
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm * 

分子量測(cè)量
分子量范圍 342 - 2 ×107 Da * (動(dòng)態(tài)光散射) 
           980 - 2 ×107 Da * (靜態(tài)光散射) 
小樣品量 12 μl，* 取決于樣品 

多項(xiàng)技術(shù) 
l 馬爾文NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有靈敏性 
l 馬爾文的新一代PALS+M3技術(shù),將的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測(cè)散射光的相位變化 
l 馬爾文的毛細(xì)管樣品池電極組件,真正避免交叉污染

強(qiáng)大多功能系統(tǒng) 
l *的APD檢測(cè)器,靈敏度無出其右 
l 特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性 
l 標(biāo)準(zhǔn)配置研究級(jí)高速數(shù)字相關(guān)器 
l 175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測(cè)量模式,洞悉體系中的締合物含量