無錫新品金屬化標(biāo)簽表面比電阻測試儀 無錫新品金屬化標(biāo)簽表面比電阻測試儀 此儀器主要廣泛用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試FT-361超低阻雙電四探針測試儀一、概述：本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率，小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。選購：本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料，EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等三、參數(shù)資料1.方塊電阻范圍：10-6～2×102Ω/□2.電阻率范圍：10-7～2×103Ω-cm3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA.4.電流精度：±0.1%讀數(shù)5.電阻精度：≤0.3%6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率.7.測試方式: 雙電測量8.工作電源:輸入: AC 220V±10% 50Hz 功 耗：<30W9.整機(jī)不確定性誤差:≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）10.選購功能: 選購1.pc軟件；2.方形探頭；3.直線形探頭；4.測試平臺11.測試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè). 瑞柯儀器質(zhì)量服務(wù)：1.質(zhì)保期12個月，終生維護(hù)。2.在質(zhì)保期內(nèi)，除人為因素外，任何因儀器設(shè)計、材料或工藝不當(dāng)引起的缺陷、故障我們免費(fèi)修理或更換。3.接到用戶通知所提供的儀器出現(xiàn)故障后，十分鐘內(nèi)回應(yīng). 4.保證及時向用戶以惠的價格提供所需的備品備件和易損件