S1000 校準(zhǔn)圖形放大倍率標(biāo)準(zhǔn)樣品-光學(xué)計(jì)量器具：S1000微米一亞微米級(jí)系列標(biāo)樣，總體為5mm×5mm0.5mm（長(zhǎng)×寬×厚）大小的小方塊。用于掃描電鏡（包括電子探針等）儀器主要性能的校驗(yàn)和檢驗(yàn)，如圖像的放大倍率檢驗(yàn)與調(diào)整、掃描圖像畸變的調(diào)整、像散調(diào)節(jié)以及樣品臺(tái)的復(fù)位檢驗(yàn)等，是掃描電鏡儀器驗(yàn)收、儀器年度檢驗(yàn)、計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可等考核中，*的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

S1000 校準(zhǔn)圖形放大倍率標(biāo)準(zhǔn)樣品-光學(xué)計(jì)量器具：

S1000 校準(zhǔn)圖形放大倍率標(biāo)準(zhǔn)樣品-光學(xué)計(jì)量器具：

          S1000微米一亞微米級(jí)系列標(biāo)樣，總體為5mm×5mm0.5mm(長(zhǎng)×寬×厚)大小的小方塊。用于掃描電鏡（包括電子探針等）儀器主要性能的校驗(yàn)和檢驗(yàn)，如圖像的放大倍率檢驗(yàn)與調(diào)整、掃描圖像畸變的調(diào)整、像散調(diào)節(jié)以及樣品臺(tái)的復(fù)位檢驗(yàn)等，是掃描電鏡儀器驗(yàn)收、儀器年度檢驗(yàn)、計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可等考核中，*的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

> >  特點(diǎn)：

          1、擁有現(xiàn)代的加工工藝，研制技術(shù)本身具有足夠的精度等保證其質(zhì)量
          2、底層鍍有純鈦層，表面有120nm厚的Au膜，可稱之為擁有特厚金層，不僅可長(zhǎng)
期穩(wěn)定保存，而且具有極其良好的導(dǎo)電性
          3、具有格柵狀雙向結(jié)構(gòu)，與早期使用的初級(jí)銅網(wǎng)結(jié)構(gòu)相似，   是國(guó)內(nèi)外可以同時(shí)對(duì)任意兩個(gè)垂直方向上的掃描電鏡、電子探針的圖像的放大倍率進(jìn)行檢查或校正的標(biāo)樣
          4、有德國(guó)PTB計(jì)量型原子力顯微鏡的測(cè)量研究報(bào)告和研制者的研制報(bào)告正式發(fā)布(見“掃描電鏡測(cè)長(zhǎng)問(wèn)題的討論”一書)，即采用目前精度好、可溯源的檢測(cè)方法，有可靠的文獻(xiàn)依據(jù)
          5、S1000曾經(jīng)過(guò)我國(guó)國(guó)家計(jì)量研究院的多次檢驗(yàn)測(cè)試，并多次獲得合格證書；
          6、S1000早在2005年通過(guò)全國(guó)微束標(biāo)委會(huì)的有關(guān)專家評(píng)審?fù)ㄟ^(guò)，具備報(bào)批國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品的資格，并且已經(jīng)過(guò)眾多用戶近十年的使用，證明其質(zhì)量?jī)?yōu)良
          7、公開出版的“掃描電鏡測(cè)長(zhǎng)問(wèn)題的討論”專著實(shí)際上是一本S1000的綜合性的研制報(bào)告；
          8、價(jià)格低廉，易于保存、易于普及到每個(gè)掃描電鏡和電子探針實(shí)驗(yàn)室
          9、功能多，用途多
          (1)可用于同時(shí)對(duì)任意兩個(gè)垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進(jìn)行檢查或校正，是校準(zhǔn)從10×~100.000×及以上范圍的圖像放大倍率的有效的圖形標(biāo)準(zhǔn)樣品：是執(zhí)行GB/T27788“微束分析一掃描電鏡一圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則”一個(gè)精準(zhǔn)的校準(zhǔn)標(biāo)樣
          (2)可直接用于同一量級(jí)物體，毫米量級(jí)到納米量級(jí)長(zhǎng)度的精確比對(duì)測(cè)量，是執(zhí)行GB/T16594和GB/T20307微米和納米測(cè)量的一個(gè)不能缺少的精準(zhǔn)的度量工具
          (3)可用于對(duì)圖像的X、Y方向上的畸變和邊緣的畸變進(jìn)行校驗(yàn)，是評(píng)價(jià)掃描電鏡圖像質(zhì)量的一個(gè)重要工具
          (4)對(duì)樣品臺(tái)傾斜角和電子傾斜以及旋轉(zhuǎn)調(diào)整功能的檢驗(yàn)也有較好的作用

          (5)利用標(biāo)樣上的“點(diǎn)子”圖像，可對(duì)電子束作漂移檢驗(yàn)和樣品臺(tái)復(fù)位檢驗(yàn)